Eigenschaften
Ultra-High-Speed-Messung
Die Messrate von bis zu 40 Schritten pro Sekunde hilft, Taktzeiten zu reduzieren und kann sogar in vollautomatischen Produktionslinien eingesetzt werden, um Engpässe zu vermeiden. Dies ist in der Tat eine einzigartige Stärke der Flying-Probe-Tester von Hioki.
Fine-Pitch-Prüfung
Prüfen Sie präzise und konsistent bis zu einem Leiterbahnabstand von 0,2 mm. Dies ermöglicht die Inspektion von Fine-Pitch-Bauteilen, die mit fixture-basierten Testern nicht zuverlässig durchgeführt werden können.
Ergänzende Bildverarbeitungsinspektion
Ergänzen Sie die Gesamtinspektionsstrategie mit Hiokis Standard-Bildverarbeitungsfunktion, die eine Überprüfung der An- und Abwesenheit von Komponenten sowie eine Bestätigung der Polarität und Verschiebung ermöglicht.
Benutzerfreundliche Oberfläche
Eine komplett überarbeitete, auf Windows 7 basierende Benutzeroberfläche nutzt eine grafikreiche Umgebung und macht die Arbeit sehr intuitiv und effizient. Kompetentes und zuverlässiges Testen wird unabhängig vom Bediener erreicht.
Großer Prüfbereich
Ein breites Spektrum an Leiterplattengrößen kann geprüft werden, von 2″ x 2″ bis 20″ x 18″.
Automatische Positionskompensationsfunktion
Standardfunktion, die in Verbindung mit einem hochpräzisen Mechanismus arbeitet, der eine Antastung mit extrem hoher Genauigkeit ermöglicht. Durch den Einsatz einer CCD-Kamera zum Einlernen der Datenkoordinaten und zum Erstellen von Offsets ist der Debug-Prozess einfach und präzise.
Eine Fülle von Optionen
Eine Reihe von Optionen und Zubehör ist verfügbar. Ein optimales System kann leicht auf die Bedürfnisse des Kunden abgestimmt werden.
Programmiermethoden
- CAD-Konvertierungssoftware (Siemens Test Expert)
- Gerberdatenerstellungssystem (Hiokis Alternative zur CAD-basierten Methode, ideal für EMS-Firmen und CMs.)
- Manuelles Teachen mit CCD-Kamera.
Ladesystem ist Standard-SPEZ
Die Platinenladefunktion ist Teil des Standardpakets, das es einfach macht, ein automatisches Inspektionssystem aufzubauen. Schnittstellen für HIOKI-Standardgeräte gehören ebenfalls zur Standardausstattung, einschließlich SMEMA-Kompatibilität.
Hohe Antastgenauigkeit
Antastgenauigkeit von ±100 µm und Bewegungswiederholgenauigkeit von ±50 µm, ideal für die Prüfung von Fine-Pitch-Baugruppen sowohl auf Kurzschlüsse als auch auf offene Schaltkreise.
Testreihenfolge-Optimierung
Um den mechanischen Verfahrweg der Prüfköpfe zu minimieren, wird die Testreihenfolge automatisch optimiert, um die Effizienz zu erhöhen und letztlich die Zykluszeiten zu reduzieren.
Schlechtmarkenerkennung
Die ausgestattete CCD-Kamera kann sowohl für die Erkennung von Prüfmarken bei Leiterplatten mit mehreren Prüflingen als auch für die Prüfung verwendet werden, die nur den Schritt der Bilderkennung von Marken beinhaltet.
Koordinatendateneinlernen
Die standardmäßig ausgestattete Kamera kann zur einfachen und genauen Koordinatendateneingabe und Datenüberprüfung zur Fehlersuche verwendet werden.
Spezifikation von FA1240-61
HIOKI Flying Probe-Tester
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Anwendung für EV-Batteriemodule
Der Flying-Probe-Tester FA1240 von HIOKI bietet eine schnelle, hochpräzise und vorrichtungslose Prüfung von Batterie-Modulen mit vier fliegenden Prüfspitzen. Die proprietären fliegenden 4-Pol-Sonden visualisieren das Ausmaß von Schweißfehlern anhand von Widerstandswerten und ermöglichen eine genaue Prüfung des Innenwiderstands von Lithium-Ionen-Batterien.